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始于90年代末

濕法制程整體解決方案提供商

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推薦產品 / 產品中心
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
在LED外延及芯片制造領域,濕法設備占據約40%以上的工藝,隨著工藝技術的不斷發(fā)展,濕法設備已經成為LED外延及芯片制造領域的關鍵設備,如SPM酸清洗、有機清洗、顯影、去膠、ITO蝕刻、BOE蝕刻、PSS高溫側腐、下蠟、勻膠、甩干、掩膜版清洗等。華林科納(江蘇)CSE深入研究LED生產工藝,現(xiàn)已形成可滿足LED產業(yè)化項目需求的全自動濕法工藝標準成套設備。 LED 芯片的制造工藝流程為:外延片→清洗→鍍透明電極層→透明電極圖形光刻→腐蝕→去膠→平臺圖形光刻→干法刻蝕→去膠→退火→SiO2 沉積→窗口圖形光刻→SiO2腐蝕→去膠→N極圖形光刻→預清洗→鍍膜→剝離→退火→P 極圖形光刻→鍍膜→剝離→研磨→切割→芯片→成品測試。 CSE-外延片清洗機設備 設備名稱華林科納(江蘇)CSE-外延片清洗機設備可處理晶圓尺寸2”-12”可處理晶圓材料硅、砷化鎵、磷化銦、氮化鎵、碳化硅、鈮酸鋰、鉭酸鋰等應用領域集成電路、聲表面波(SAW)器件、微波毫米波器件、MEMS器件、先進封裝等專有技術系統(tǒng)潔凈性技術均勻性技術晶圓片N2干燥技術模塊化系統(tǒng)集成技術自動傳輸及精確控制技術溶液溫度、流量和壓力的精確控制技術主要技術特點系統(tǒng)結構緊湊、安全腔體獨立密封,具有多種功能可實現(xiàn)晶圓干進干出采用工控機控制,功能強大,操作簡便可根據用戶要求提供個性化解決方案設備制造商華林科納(江蘇)半導體設備有限公司 126xa.cn 400-8768-096 ;18915583058更多的外延片清洗設備相關資訊可以關注華林科納CSE官網(126xa.cn),現(xiàn)在熱線咨詢400-8798-096可立即獲取免費的半導體行業(yè)相關清洗設備解決方案。
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
旋轉式噴鍍臺結合微組裝工藝對鍍制工藝的小批量、多規(guī)格和特殊應用要求等特點,在6" (150mm)晶圓電鍍系統(tǒng)中采用了傾斜式旋轉噴鍍技術傾斜式旋轉噴鍍單元分由兩個部分組成,一為陰極夾具、旋轉單元、導線電刷、N2 保護單元組成的陰極回轉體,二為三角形槽體、陽極和電力線擋板組成的陽極腔。傾斜旋轉噴鍍結構示意圖如下:從鍍制結構方式、鍍制工藝應用分析可以看出,采用傾斜式旋轉噴鍍有以下幾種優(yōu)勢。一是這種結構方式易實現(xiàn)槽體密封和附加N2 保護功能。二是在這種鍍制工藝中,陰極的旋轉運動使槽內電場不均問題得以解決,從而提高了鍍制的均勻性。三是呈45°傾斜加陰極旋轉的方式,可以較容易的祛除晶圓表面的氣泡附著及“產生”氣泡的消除。四是采用了多微孔進行鍍液噴射,實現(xiàn)攪拌功能,消除局部PH值、溫度、離子濃度等不均勻帶來的影響。五是采用三角形鍍槽設計最大限度的減少了鍍液的消耗。六是該鍍制結構方式可以滿足多品種、小批量、低成本的生產需求。傾斜旋轉噴鍍技術、工藝優(yōu)勢斜式三角鍍槽結構本系統(tǒng)采用傾斜式三角形鍍槽結構,鍍槽入口溢流口均與三角形斜邊平行,可得到穩(wěn)定且不易積累氣泡的流場環(huán)境。通過進行相關模擬、仿真和驗證,鍍液入口采用扇形噴咀式結構,可保證鍍液在平行于陰極表面方向上形成均勻而穩(wěn)定的流場。從而通過改變流場的方法改善了鍍層的均勻性。該結構的另一優(yōu)點可使電鍍液的用量減至最少程度。 華林科納(江蘇)CSE采用傾斜旋轉噴鍍方法進行晶圓電鍍工藝處理,由于結構上的特點,該方法經實驗驗證具有:①結構簡單;②工藝參數控制容易;③有利氣泡的消除;④鍍制均勻性得到提高;⑤鍍制溶液用量少。該方法尤其適應于小批量、多規(guī)格的電鍍工藝,同時可以取得較好的鍍制均勻性。圖6為我們所研制的150mm晶圓傾斜旋轉噴鍍系統(tǒng),目前已批量生產并在工藝線上得到較好的應用,產品已通過技術定型鑒定和用戶驗收。實現(xiàn)的主要工藝指標:最...
發(fā)布時間: 2016 - 06 - 22
雙腔甩干機1. 應用范圍:l 本機臺適用於半導體2”4”6”8”晶圓(含)以下之旋乾製程.l 設備為垂直式雙槽體機臺,可同Run 50片.l 可對旋乾步驟進行可程式化控制 (Recipe Program).l 具使用在此設備已超過20年以上的應用馬達控制系統(tǒng)設計, 高穩(wěn)定度Rotor 設計, 震動值均控制於300 um 以下.l 高潔淨設計,微塵控制於每次運轉增加量, 0.3um , 30顆以下.   2. 操作流程3. 圖示 4. 規(guī)格l 機臺內皆使用鐵氟龍製DI , N2 控制閥件l 直流式馬達: DC無刷馬達750Wl 真空負壓軸封設計,隔離槽外污染l 不銹鋼N2過濾器 0.003~0.005μml 氣體加熱器及加熱墊控制乾燥速率l 壓力感測保護(加熱器空燒保護)l 槽外貼Silicon材質加熱墊 x1 片, 220VAC , 300W(溫度開關90°C OFF 70°C ON)l  Viton材質充氣式氣囊及槽後密封環(huán),保持室外絕緣l 不銹鋼槽體SS316經拋光及電解研磨l 單顆螺絲固定轉子,並按客戶需求指定使用訂做l 轉子經拋光及電解研磨,並做動態(tài)平衡校正l 可選擇指示燈訊及蜂鳴器音樂故障碼功能: 門鎖警告,氣體不足,傳動異常警告 5. 電控系統(tǒng)l  控制器操作介面: 7”記憶人機+ PLC可程式自動化控制器(人機 Touch Screen,整合介面) 。l 軟體功能Ø 編輯/儲存 : 製程/維修/警示/編輯/配方/,皆可從操作螢幕上修改。Ø 儲存能力記憶模組...
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 07
枚葉式清洗機-華林科納CSE華林科納(江蘇)半導體CSE-單片枚葉式洗凈裝置的特長:單片式清洗裝置的優(yōu)點(與浸漬.槽式比較)1.晶片表面的微粒數非常少(到25nm可對應)例:附著粒子數…10個/W以下(0.08UM以上粒子)(參考)槽式200個/W2.藥液純水的消費量少藥液…(例)1%DHF的情況  20L/日純水...每處理一枚晶片0.5-1L/分3.小裝置size(根據每個客戶可以定制) 液體濺射(塵埃強制除去)  (推薦)清洗方法單片式裝置的Particle再附著問題   更多的半導體單片枚葉式濕法腐蝕清洗設備相關信息可以關注華林科納CSE官網(www.hlkncas.com),現(xiàn)在熱線咨詢400-8768-096;18913575037可立即獲取免費的半導體清洗解決方案。
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 07
自動供酸系統(tǒng)(CDS)-華林科納(江蘇)CSEChemical Dispense System System 華林科納(江蘇)半導體CSE-CDS自動供酸系統(tǒng) 適用對象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本設備主要用于濕法刻蝕清洗等制程工程工序需要的刻蝕液集中進行配送,經管道至設備;具有自動化程度高,配比精確,操作簡便等特點;具有良好的耐腐蝕性能。控制模式:手動控制模式、自動控制模式設備名稱華林科納(江蘇)CSE-CDS自動供酸系統(tǒng)設備型號CSE-CDS-N1507設計基準1.供液系統(tǒng)(Chemical Dispense System System)簡稱:CDS2. CDS 將設置于化學房內:酸堿溶液CDS 系統(tǒng)要求放置防腐性的化學房;3. 設備材質說明(酸堿類):酸堿溶液CDS外構采以WPP 10T 板材,內部管路及組件采PFA 451 HP 材質;4. 系統(tǒng)為采以化學原液 雙桶/單桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式運送到制程使用點;5. 過濾器:配有10” PFA材質過濾器外殼;6. 供液泵:每種化學液體配有兩臺或者一臺 PTFE材質的進口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸堿類采用一般型靜電容近接開關;8. 所有化學品柜、歧管箱及閥箱均提供泄漏偵測器與警報功能。CDS系統(tǒng)設備規(guī)格 1. 系統(tǒng)主要功能概述設備主要功能:每種化學液體配兩個桶(自動切換)、配兩臺泵(一用一備)、帶過濾器;系統(tǒng)控制單元:配帶OMRON 8”彩色觸摸屏,OMRON品牌PLC系統(tǒng);2. 操作模式: CDS 系統(tǒng)皆有PLC 作Unit 內部流程控制,操作介面以流程方式執(zhí)行,兼具自動化與親和力。在...
發(fā)布時間: 2018 - 01 - 23
單片清洗機-華林科納CSESingle wafer cleaner system華林科納(江蘇)CSE-自動單片式腐蝕清洗機應用于清洗(包括光刻板清洗)刻蝕 去膠 金屬剝離等;可處理晶圓尺寸2'-12';可處理晶圓材料:硅 砷化鎵 磷化銦 氮化鎵 碳化硅 鈮酸鋰 鉭酸鋰等;主要應用領域:集成電路   聲表面波器件  微波毫米波器件  MEMS  先進封裝等  設 備 名 稱CSE-單片清洗機類  型單片式適 用 領 域半導體、太陽能、液晶、MEMS等清 洗 方 式2英寸——12英寸設備穩(wěn)定性1、≥0.2um顆粒少于10顆2、金屬附著量:3E10 atoms/ cm²3、純水消耗量:1L/min/片4、蝕刻均一性良好(SiO?氧化膜被稀釋HF處理):≤2%5、干燥時間:≤20S6、藥液回收率:>95%單片式優(yōu)點1、單片處理時間短(相較于槽式清洗機)2、節(jié)約成本(藥液循環(huán)利用,消耗量遠低于槽式)3、良品率高4、有效避免邊緣再附著5、立體層疊式結構,占地面積小 更多的單片(枚葉)式清洗相關設備可以關注華林科納(江蘇)半導體官網,關注http://126xa.cn ,400-8768-096,18913575037
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
氫氟酸HF自動供液系統(tǒng)-華林科納(江蘇)CSEChemical Dispense System System 華林科納(江蘇)半導體CSE-氫氟酸供液系統(tǒng) 適用對象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本設備主要用于濕法刻蝕清洗等制程工程工序需要的刻蝕液集中進行配送,經管道至設備;具有自動化程度高,配比精確,操作簡便等特點;具有良好的耐腐蝕性能。控制模式:手動控制模式、自動控制模式 設備名稱華林科納(江蘇)CSE-氫氟酸(HF)供液系統(tǒng)設備型號CSE-CDS-N2601設計基準1.供液系統(tǒng)(Chemical Dispense System System)簡稱:CDS2. CDS 將設置于化學房內:酸堿溶液CDS 系統(tǒng)要求放置防腐性的化學房;3. 設備材質說明(酸堿類):酸堿溶液CDS外構采以WPP 10T 板材,內部管路及組件采PFA 451 HP 材質;4. 系統(tǒng)為采以化學原液 雙桶/單桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式運送到制程使用點;5. 過濾器:配有10” PFA材質過濾器外殼;6. 供液泵:每種化學液體配有兩臺或者一臺 PTFE材質的進口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸堿類采用一般型靜電容近接開關;8. 所有化學品柜、歧管箱及閥箱均提供泄漏偵測器與警報功能。CDS系統(tǒng)設備規(guī)格 1. 系統(tǒng)主要功能概述設備主要功能:每種化學液體配兩個桶(自動切換)、配兩臺泵(一用一備)、帶過濾器;系統(tǒng)控制單元:配帶OMRON 8”彩色觸摸屏,OMRON品牌PLC系統(tǒng);2. 操作模式: CDS 系統(tǒng)皆有PLC 作Unit 內部流程控制,操作介面以流程方式執(zhí)行,兼具自動化...
新聞中心 新聞資訊

太陽能電池片潔凈度檢測測量三

時間: 2016-03-23
點擊次數: 179

?Cost Impact Of Cleanliness Levels?清潔水平的成本對比
? Cleaning cost - directly proportional to level of cleanliness
??????????清潔成本-與清潔度水平直接成正比
? Non-conformance level - indirectly Proportional to level of cleanliness
???????????????? ??不符水平-與清潔度水平間接成比例
? Total cost = cost of cleaning + cost Of non-conformance
?????????? ????????總成本=清潔成本+不符水平?
?
Selection Criteria - Cleanliness Measuring Methods
選擇標準-潔凈度檢測方法
??????????Types of contaminant污染類型
??????????Types of substrate基板類型
??????????Level of cleanliness潔凈水平
??????????Measurement speed測量速度
??????????Acquisition & operating cost?獲得和運行成本
??????????Skill level required技術水平要求
? Features of the measurement method
??????????測量方法特性
??????????Non-contact, non-destructive無接觸,無損傷
??????????Direct or indirect?直接或間接
?
Suggested Approaches: Defining Acceptable Cleanliness Level
推薦的方法:定義合適的潔凈等級
??????????Baseline testing基線測試
?
??????????Controlled experiment?控制實驗
?
Baseline Testing基線檢測
??????????Measure cleanliness level of the current process當前工藝潔凈等級測量
??????????Measure non-conformance rate attributed to surface cleanliness表面潔凈度屬性不符率測量
??????????If this measured rate is too high, then improve surface cleanliness process如果測量出的這種比率過高,那么改善表面清潔工藝
??????????If this measured rate is acceptable, then cleanliness level of current process becomes acceptable level如果測量出的這種比率合適,那么當前工藝的清潔等級就是合適的等級
??????????If this measured rate is too low, then un-improve surface cleanliness process弱國測量出的這種比率過低,那么調低表面清潔工藝
?
?
Controlled Experiment
控制實驗
??????????Define the desired “success” level定義需求合適等級
??????????Prepare parts with varying surface???cleanliness level準備不同表面潔凈等級的部件
??????????Measure and record surface cleanliness levels測量并記錄表面潔凈等級
? Perform the next operation
??????????執(zhí)行下一個操作
? Measure the “success” level of the operation
??????????測量這個操作的合適等級
? Correlate cleanliness level to “success” level of the operation
??????????將這個操作合適等級同潔靜等級關聯(lián)
Example.例子
? Parts are coated with a film.
??????????部件用薄膜涂覆
? “Success” = desired adhesion.
??????????合適=需要的粘著系數
? “Success” level = minimum adhesion measured as peel strength.
??????????合適等級=剝離強度下測量的最小粘著系數
? Establish surface cleanliness limits
??????????建立表面潔凈度限值
? Limits based on minimum “success” measure desired
??????????基于最小“合適”需求的測量限制
? Implement cleanliness measurement method
??????????實施清潔度測量方法
? Begin monitoring of cleanliness process to established cleanliness limits
??????????從監(jiān)控清潔工藝至建立潔凈度限值
?
Surface Cleanliness Vs.Peel Strength
表面潔凈度?Vs?剝離強度
??
?
OSEE Principle
光學受激電子發(fā)射原理
– Surface exposed to UV light
–????????紫外線光照射表面
– UV light causes surface to emit electrons
–????????紫外線光另表面發(fā)射電子
– Emitted electrons collected and converted into a voltage signal
–????????發(fā)射的電子聚集并轉化成電壓信號
– In general, clean surface gives high emission
–????????通常,潔凈的表面會有更高的發(fā)射
– Surface contamination partially blocks:
–????????表面污染部分阻礙:
– The UV light reaching the surface
–????????紫外光到達表面
– The flow of electron away from surface
–????????電子流離開表面
– Contamination causes a drop in measured signal
–????????污染會引起測量信號的一個回落
?
?
How it works
它如何工作
??
?
Cleanliness Monitoring of Solid Rocket Motor (SR, M) Using OSEE
使用光學受激電子發(fā)射的Solid Rocket Motor (SRM)潔凈監(jiān)測
? SRM is made up of several segments of D6ACsteel, approx. 13 feet diameter and 10 feet long.
??????????固態(tài)引擎電機由幾段D6AC鋼制成,直徑約13英尺,長約10英尺
? Segments are mechanically fastened to each other with a groove/ring arrangement.
??????????各段用一個凹槽/圈組合固定彼此
? This joint also houses the infamous “O” ring.
??????????連接處也覆蓋在“O”型圈內
? An asbestos/rubber lining covers the inside surface of SRM including the joints
??????????一個石棉/橡膠內襯覆蓋固態(tài)引擎電機及接頭內表面
? Solid propellant is then cast into the SRM
??????????然后固體推進劑被擲入固態(tài)引擎電機
? During the launch the propellant burns and generates intense heat
??????????推進劑燃燒之前期間,產生高強度的熱量
? Several approx. 1 square foot sections of D6ACsteel were prepared with varying degree of surface contamination
??????????準備幾個不同程度表面污染約1平方英尺區(qū)域的D6AC鋼
? Surface cleanliness of these samples was measured and recorded
??????????測量這些樣品的表面潔凈度并記錄
? Next the lining was bonded to these sections
??????????內襯邊緣與這些區(qū)域連接
? Peel tests were performed to measure the adhesion strength of the lining
??????????執(zhí)行剝離實驗是為了測量內襯的粘著強度
?
?
??OSEE Vs. Contamination Level
????? 光學受激電子發(fā)射Vs污染等級??
?
??Peel Strength Vs. Contamination Level
????? 剝離強度Vs污染等級?

Cleanliness Monitoring of Solid Rocket Motor (SRM) Using OSEE
使用光學受激電子發(fā)射的Solid Rocket Motor (SRM)潔凈監(jiān)測
? The predominant contaminant is HD2 grease that fluoresces
??????????主要的污染是發(fā)熒光的HD2油脂
? Prior to the use of OSEE surface cleanliness was checked with black light
??????????使用光學受激電子發(fā)射表面清潔之前需用黑光檢測
? The lowest level of contamination that could be detected was 100mg/ft2
??????????可檢測的最低等級污染是100mg/ft2?毫克/平方英尺
?
? This level of contamination resulted in an average peel strength of 50 pounds per linear inch (PLI)
??????????這種等級的污染導致一個50磅每線性英尺的平均剝離強度
? An acceptable level of 150 PLI was established
??????????合格等級150磅/線英寸建立
? This level of peel strength corresponds to an OSEE reading of 900
??????????這種剝離強度等級與讀取值900的光學受激電子發(fā)射相對應
? Currently, in SRM production, this is the minimum acceptable level of OSEE reading
??????????當前,在SRM生產中,這是光學受激電子發(fā)射讀取的最小標準等級
?
Summary總結
??????????Why monitor cleanliness?為什么要檢測潔凈度?
??????????Types of contamination?污染類型
??????????Types of cleanliness measurement methods潔凈度檢測方法類型
??????????Most common verification/measurement methods最常用的確認/測量方法
??????????Criteria for selecting a cleanliness monitoring method選擇清洗監(jiān)測方法標準
??????????Cost impact of cleanliness level清潔度水平的成本影響
???, ???????Suggested approaches to defining acceptable limits?推薦的定義合適限值的方法
??????????Example of defining acceptable limits定義標準限值示例
??????????Summary?總結

?

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