半導體工藝-----光刻刻蝕
一、光刻膠的選擇
光刻膠包括兩種基本的類型:正性光刻和負性光刻,區(qū)別如下
二、光刻工藝步驟
1.清洗硅片
通過化學清洗、漂洗、烘干的方式去除污染物、雜質(zhì)顆粒,減少針孔和其他缺陷從而提供光刻膠粘附性
2.預烘和底膜涂覆
使用HMDS作為底膠,可以去除SiO2表面的-OH基,在100℃下脫水烘焙去除圓片表面的潮氣
3.光刻膠涂覆
硅圓片放置在高速旋轉(zhuǎn)的真空卡盤上,將液態(tài)光刻膠滴在圓片中心,光刻膠以離心力向外擴展從而均勻涂覆在圓片表面。
4.前烘
促進膠膜內(nèi)溶劑充分揮發(fā),使得膠膜干燥,增加與其SiO2的粘附性以及耐磨性。烘焙時間不宜過長,溫度不宜過高。
5.對準
為了成功在硅片上形成圖形,必須把硅片上的正確圖形與掩膜版上的圖形對準,套準精度是測量對準系統(tǒng)把版圖套刻到硅片上圖形的能力。
6.?曝光
7.后烘
光刻膠分子發(fā)生熱運動,過曝光和欠曝光的光刻膠分子發(fā)生重分布,通過后烘可以平衡駐波效應(入射光與反射光干涉現(xiàn)象),提供分辨率
8.顯影
通過顯影、漂洗、干燥達到顯影液溶解掉光刻膠中軟化的部分的目的
9.堅膜
溫度通常要高于前烘溫度100-130℃,時間2分鐘。
蒸發(fā)光刻膠中所有有機溶劑、提高刻蝕和注入的抵抗力、提高光刻膠和表面的粘附性、聚合和使得光刻膠更加穩(wěn)定、光刻膠流動填充針孔
10.圖形檢測
通過SEM、OM檢測,若出現(xiàn)問題
如;未對準、掩膜旋轉(zhuǎn)、晶圓旋轉(zhuǎn)、X/Y方向錯位、臨界尺寸、表面不規(guī)則(劃痕、針孔、瑕疵和污染物)需要剝?nèi)ス饪棠z重新開始
三、濕法刻蝕
1.利用化學溶液溶解硅表面的材料,副產(chǎn)物是氣體、液體或可溶于刻蝕溶液的固體
2.工藝簡單,腐蝕選擇性好,鉆蝕嚴重,精度差,3um以上
3.一般用于刻蝕SiO2/Si/Poly-Si/Si3N4/Al2O3/TiO2
四、干法刻蝕
1.各向異性腐蝕強,分辨率高,可刻蝕3um以下線條
2.濺射刻蝕:形成能量很高的等離子體,轟擊被刻蝕的材料,使其被撞原子飛濺出來,形成刻蝕
3.等離子體( Plasma)刻蝕:產(chǎn)生等離子體,刻蝕氣體經(jīng)輝光放電后成為具有很強化學活性的離子及游離基---等離子體,等離子體活性基團與被刻蝕材料發(fā)生化學反應。
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4.?反應離子刻蝕(RIE):同時利用等離子體刻蝕和濺射刻蝕機制,活性離子加離子轟擊
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