單晶硅片從切片到拋光清洗的工藝流程
一、硅片生產(chǎn)主要制造流程如下:?
切片→倒角→磨片→磨檢→CP→CVD→ML→最終洗凈→終檢→倉入?
二、硅片生產(chǎn)制造流程作業(yè)實習?
1.?硅棒粘接:用粘接劑對硅棒和碳板進行粘接,以利于牢固的固定在切割機上和方位角的確定。?
2.?切片(Slice):主要利用內(nèi)圓切割機或線切割機進行切割,以獲得達到其加工要求的厚度,X、Y方向角,曲翹度的薄硅片。?3.?面方位測定:利用X射線光機對所加工出的硅片或線切割前要加工的硅棒測定其X、Y方位角,以保證所加工的硅片的X、Y方位角符合產(chǎn)品加工要求。?
4.?倒角前清洗:主要利用熱堿溶液和超聲波對已切成的硅片進行表面清洗,以去除硅片表面的粘接劑、有機物和硅粉等。?5.?倒角(BV):利用不同的砥石形狀和粒度來加工出符合加工要求的倒角幅值、倒角角度等,以減少后續(xù)加工過程中可能產(chǎn)生的崩邊、晶格缺陷、處延生長和涂膠工藝中所造成的表面層的厚度不均勻分布。?
6.?厚度分類:為后續(xù)的磨片加工工藝提供厚度相對均勻的硅片分類,防止磨片中的厚度不均勻所造成的碎片等。?7.?磨片(Lapping):去除切片過程中所產(chǎn)生的切痕和表面損傷層,同時獲得厚度均勻一致的硅片。?
8.?磨片清洗:去除磨片過程中硅片表面的研磨劑等。
?9.?磨片檢查:鈉光燈下檢查由于前段工藝所造成的各類失效模式,如裂紋、劃傷、倒角不良等。?
10.ADE測量:測量硅片的厚度、曲翹度、TTV、TIR、FPD等。
?11.激光刻字:按照客戶要求對硅片進行刻字。
12.研磨最終清洗:去除硅片表面的有機物和顆粒。
?13.擴大鏡檢查:查看倒角有無不良和其它不良模式。?
14.CP前洗:去除硅片表面的有機物和顆粒。?
15.CP(Chemical?Polishing):采用HNO3+HF+CH3COOH溶液腐蝕去除31um厚度,可有效去除表面損傷層和提高表面光澤度。?
16.CP后洗:用堿和酸分別去除有機物和金屬離子。?
17.CP檢查:在熒光燈和聚光燈下檢查表面有無缺陷和洗污,以及電阻率、PN判定和厚度的測量分類。?
18.DK(Donar?Killer):利用退火處理使氧原子聚為基團,以穩(wěn)定電阻率。?
19.IG(Intrinsic?Gettering):利用退火處理使氧原子形成二次缺陷以吸附表面金屬雜質(zhì)。?
20.BSD(Back?Side?Damage):利用背部損傷層來吸附金屬雜質(zhì)。?
21.CVD前洗:去除有機物和顆粒。?
22.LP-CVD(Low?Pressure?Chemical?Vapor?Deposition):高溫分解SiH4外延
出多晶硅達到增強型的外吸雜。23.AP-CVD(Atmospheric?Pressure?Chemical?Vapor?Deposition):在硅片背部外延SiO2來背封并抑制自摻雜。?
24.?端面處理:去除硅片背面邊緣的SiO2。?
25.?CVD后洗:去除表面顆粒。?
26.?ML(Mirror?Lapping)倒角:防止后續(xù)工藝中的崩邊發(fā)生以及外延時的厚度不均勻等。?
27.?ML前洗:去除有機物、顆粒、金屬雜質(zhì)等。?
28.?ML貼付:硅片表面涂臘貼附在陶瓷板上,固定硅片以利于ML加工。?
29.?ML:也稱之為CMP(Chemical?Mechanism?Polishing),經(jīng)過粗拋和精拋去除14um厚度,此可有效的去除表面損傷層和提高表面平坦度。?
30.?去臘洗凈:去除ML后背面的臘層。?
31.?ADE測量:測定硅片表面形貌參數(shù)如:平整度,翹曲度等。?
32.?ρ-t測量:對電阻率和厚度進行測定和分類。?
33.?擴大鏡檢查:檢查ML倒角不良。?
34.?最終洗凈:去除顆粒,有機物和金屬雜質(zhì)。?
35.?WIS測定:測量最終洗凈后硅片表面顆粒。?
36.?最終檢查:在熒光燈和聚光燈下檢查硅片表面的情況。
37.倉入:對硅片進行包裝,防止再次污染,以待出貨。