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發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 14
2設(shè)備構(gòu)成及詳細(xì)技術(shù)說明2.1工藝說明 2.2.臺(tái)面結(jié)構(gòu)圖如下      3.設(shè)備說明3.1 排風(fēng)系統(tǒng)?●排風(fēng)裝置(排風(fēng)壓力、風(fēng)量根據(jù)實(shí)際情況或客戶要求設(shè)計(jì))將設(shè)備內(nèi)揮發(fā)的有毒氣體抽到車間排風(fēng)管道或戶外(室外排放遵守國家環(huán)保要求),避免擴(kuò)散到室內(nèi);?●排風(fēng)通道內(nèi)設(shè)有風(fēng)量導(dǎo)流板,從而使排風(fēng)效果達(dá)到最佳;?●本體頂部后方自帶強(qiáng)力抽風(fēng)1個(gè)風(fēng)道口裝置(每個(gè)藥劑槽對(duì)應(yīng)一個(gè)),排風(fēng)口直徑大于或等于 200mm 與本體焊成一體;?●排風(fēng)口處設(shè)有手動(dòng)調(diào)節(jié)風(fēng)門,操作人員可根據(jù)情況及時(shí)調(diào)節(jié)排風(fēng)量;3.2設(shè)備防護(hù)門:?●本體前方安裝有防護(hù)隔離門,隔離門采用透明PVC板制成,前門可以輕松開合,在清洗過程中,隔離門關(guān)閉,以盡量改善工作環(huán)境并減小對(duì)人體的傷害. ?●形式:上下推拉門。3.3 給排水/廢液系統(tǒng)?●給水管路為一路去離子水;?●給排水排廢接頭均為活性連接;?●排放方式均采用氣動(dòng)控制的方式來保證安全3.4 電氣控制系統(tǒng)?●采用優(yōu)質(zhì)PLC可編程控制器控制全操作過程, ?●人機(jī)界面為觸摸屏,接口中有手動(dòng)操作、故障報(bào)警、安全保護(hù)等功能,各工作位過程完成提前提示報(bào)警,觸摸屏選用優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品;?●觸摸屏加鎖定,以防非授權(quán)人員修改或設(shè)定參數(shù);?●所有電控部分需獨(dú)立封閉,帶抽風(fēng)系統(tǒng),獨(dú)立的配電柜?●設(shè)備照明:設(shè)備其它部位--低電壓燈,根據(jù)工作需要可控照明;?●設(shè)備整體采取人性化設(shè)計(jì),方便操作;并裝有漏電保護(hù)和聲光報(bào)警提示裝置,保證性能安全可靠;電控部分導(dǎo)線采用耐高溫、耐腐蝕的專用導(dǎo)線,電氣控制部分內(nèi)部還通有壓縮空氣保護(hù),可防水耐腐蝕;?●設(shè)備所有處于腐蝕腔中的線纜均通過PE管進(jìn)行保護(hù),免受腐蝕;?●設(shè)備具有良好的接地裝置;
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 14
設(shè)備概況:(僅做參考)主要功能:本設(shè)備主要手動(dòng)搬運(yùn)方式,通過對(duì)硅片腐蝕、漂洗、等方式進(jìn)行處理,從而達(dá)到一個(gè)用戶要求的效果。設(shè)備名稱:KOH  Etch刻蝕清洗機(jī)           設(shè)備型號(hào):CSE-SC-NZD254整機(jī)尺寸(參考):自動(dòng)設(shè)備約2500mm(L)×1800mm(W)×2400mm(H);被清洗硅片尺寸: 2--6寸(25片/籃)設(shè)備形式:室內(nèi)放置型;操作形式:手動(dòng)各槽位主要技術(shù)工藝:設(shè)備組成:該設(shè)備主要由清洗部分、抽風(fēng)系統(tǒng)及電控部分組成設(shè)備走向:方案圖按 “左進(jìn)右出”方式,另可按要求設(shè)計(jì)“右進(jìn)左出”方式;設(shè)備描述:此裝置是一個(gè)全自動(dòng)的處理設(shè)備。8.0英寸大型觸摸屏(PROFACE/OMRON)顯示 / 檢測 / 操作每個(gè)槽前上方對(duì)應(yīng)操作按鈕,與觸摸屏互相配合主體材料:德國進(jìn)口10mmPP板,優(yōu)質(zhì)不銹鋼骨架,外包3mmPP板防腐;臺(tái)面板為德國10mm PP板;DIW管路及構(gòu)件采用日本進(jìn)口clean-PVC管材,需滿足18M去離子水水質(zhì)要求,酸堿管路材質(zhì)為進(jìn)口PFA/PVDF;采用國際標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)加工,焊接組裝均在萬級(jí)凈化間內(nèi)完成;排風(fēng):位于機(jī)臺(tái)后上部工作照明:上方防酸照明三菱、歐姆龍 PLC控制。安全考慮:設(shè)有EMO(急停裝置), 強(qiáng)電弱點(diǎn)隔離所有電磁閥均高于工作槽體工作液面電控箱正壓裝置(CDA Purge)設(shè)備三層防漏  樓盤傾斜   漏液報(bào)警  設(shè)備整體置于防漏托盤內(nèi)排放管路加過濾裝置所有槽體折彎成型,可有效避免死角顆粒;更多化學(xué)品相關(guān)濕法腐蝕相關(guān)設(shè)備(KOH腐蝕刻蝕機(jī)、RCA清洗機(jī)、去膠機(jī)、外延片清洗機(jī)、酸堿腐蝕機(jī)、顯影機(jī)等)以及干燥設(shè)備(馬蘭戈尼干燥機(jī)Marangoni、單腔...
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集成電路的介紹晶體管發(fā)明并大量生產(chǎn)之后,各式固態(tài)半導(dǎo)體組件如二極管、晶體管等大量使用,取代了真空管在電路中的功能與角色。到了20世紀(jì)中后期半導(dǎo)體制造技術(shù)進(jìn)步,使得集成電路成為可能。相對(duì)于手工組裝電路使用個(gè)別的分立電子組件,集成電路可以把很大數(shù)量的微晶體管集成到一個(gè)小芯片,是一個(gè)巨大的進(jìn)步。集成電路的規(guī)模生產(chǎn)能力,可靠性,電路設(shè)計(jì)的模塊化方法確保了快速采用標(biāo)準(zhǔn)化集成電路代替了設(shè)計(jì)使用離散晶體管。集成電路對(duì)于離散晶體管有兩個(gè)主要優(yōu)勢:成本和性能。成本低是由于芯片把所有的組件通過照相平版技術(shù),作為一個(gè)單位印刷,而不是在一個(gè)時(shí)間只制作一個(gè)晶體管。性能高是由于組件快速開關(guān),消耗更低能量,因?yàn)榻M件很小且彼此靠近。2006年,芯片面積從幾平方毫米到350 mm²,每mm²可以達(dá)到一百萬個(gè)晶體管。第一個(gè)集成電路雛形是由杰克·基爾比于1958年完成的,其中包括一個(gè)雙極性晶體管,三個(gè)電阻和一個(gè)電容器,相較于現(xiàn)今科技的尺寸來講,體積相當(dāng)龐大。電子顯微鏡下碳納米管微計(jì)算機(jī)芯片體的場效應(yīng)畫面根據(jù)一個(gè)芯片上集成的微電子器件的數(shù)量,集成電路可以分為以下幾類:● 小型集成電路(SSI英文全名為Small Scale Integration)邏輯門10個(gè)以下或 晶體管100個(gè)以下?!?#160;中型集成電路(MSI英文全名為Medium Scale Integration)邏...
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 12
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半導(dǎo)體材料半導(dǎo)體材料是導(dǎo)電能力介于導(dǎo)體和絕緣體之間的一類固體材料。發(fā)展● 1833年,英國的法拉第(Michael Faraday)發(fā)現(xiàn)的其中一種半導(dǎo)體材料:硫化銀,因?yàn)樗碾娮桦S著溫度上升而降低?!?#160;1874年,德國的布勞恩(Ferdinand Braun),注意到硫化物的電導(dǎo)率與所加電壓的方向有關(guān),這就是半導(dǎo)體的整流作用。● 1947年12月23日,巴丁與布拉坦(Walter Brattain)進(jìn)一步使用點(diǎn)接觸晶體管制作出一個(gè)語音放大器,晶體管正式發(fā)明?!?#160;1958年9月12日,德州的基爾比(Jack Kilby),細(xì)心地切了一塊鍺作為電阻,再用一塊pn接面做為電容,制造出一個(gè)震蕩器的電路。● 1970年,超晶格概念的提出和超晶格量子阱的研制成功。分類以原料分為:● 元素半導(dǎo)體材料:以單一元素組成的半導(dǎo)體,屬于這一材料的有硼、金剛石、鍺、硅、灰錫、銻、硒、碲等,其中以鍺、硅、錫研究較早,制備工藝相對(duì)成熟?!?#160;復(fù)合半導(dǎo)體材料:由兩種或兩種以上無機(jī)物化合成的半導(dǎo)體,種類繁多,已知的二元化合物就有數(shù)百種?!?#160;三五半導(dǎo)體:由Ⅲ族元素Al、Ga、In和V族元素P、As、Sb組成,比如砷化鎵(GaAs);它們都具有閃鋅礦結(jié)構(gòu),在應(yīng)用方面僅次于Ge、Si?!?#160;二六半導(dǎo)體:Ⅱ族元素Zn、Cd、Hg和Ⅵ族元...
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 11
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晶圓晶圓(英語:Wafer)是指制作硅(硅)半導(dǎo)體集成電路所用的硅芯片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓。晶圓是生產(chǎn)集成電路所用的載體,一般晶圓產(chǎn)量多為單晶硅圓片。晶圓是最常用的半導(dǎo)體材料,按其直徑分為4英寸、5英寸、6英寸、8英寸等規(guī)格,近來發(fā)展出12英寸甚至研發(fā)更大規(guī)格(14英寸、15英寸、16英寸、20英寸以上等)。晶圓越大,同一圓片上可生產(chǎn)的集成電路(integrated circuit, IC)就越多,可降低成本;但對(duì)材料技術(shù)和生產(chǎn)技術(shù)的要求更高,例如均勻度等等的問題。一般認(rèn)為硅(硅)晶圓的直徑越大,代表著這座晶圓廠有更好的技術(shù),在生產(chǎn)晶圓的過程當(dāng)中,良品率是很重要的條件。晶圓的制造過程很簡單的說,首先由普通硅(硅)砂拉制提煉,經(jīng)過溶解、提純、蒸餾一系列措施制成單晶硅棒,單晶硅棒經(jīng)過切片、拋光之后,就得到了單晶硅圓片,也即晶圓。1、將二氧化硅礦石(石英砂)與焦炭混合后,經(jīng)由電弧爐加熱還原,即生成粗硅(純度98%,冶金級(jí))。SiO2 + C = Si + CO2 ↑ 2、鹽酸氯化并經(jīng)蒸餾后,制成了高純度的多晶硅(半導(dǎo)體級(jí)純度11個(gè)9,太陽能級(jí)7個(gè)9),因在精密電子元件當(dāng)中,硅晶圓需要有相當(dāng)?shù)募兌龋?9.999999999%),不然會(huì)產(chǎn)生缺陷。3、晶圓制造廠再以柴可拉斯基法將此多晶硅(硅)熔解,再于溶液內(nèi)摻入一小粒的硅(硅)晶體晶種,然后將其慢慢拉出,以形成圓柱狀的單晶...
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 11
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光刻膠光刻膠(英語:photoresist),亦稱為光阻或光阻劑,是指通過紫外光、深紫外光、電子束、離子束、X射線等光照或輻射,其溶解度發(fā)生變化的耐蝕刻薄膜材料,是光刻工藝中的關(guān)鍵材料,主要應(yīng)用于集成電路和半導(dǎo)體分立器件的細(xì)微圖形加工。光刻膠根據(jù)在顯影過程中曝光區(qū)域的去除或保留可分為兩種-正性光刻膠(positive photoresist)和負(fù)性光刻膠(negative photoresist)?!?#160;正性光刻膠之曝光部分發(fā)生光化學(xué)反應(yīng)會(huì)溶于顯影液,而未曝光部分不溶于顯影液,仍然保留在襯底上,將與掩膜上相同的圖形復(fù)制到襯底上。● 負(fù)性光刻膠之曝光部分因交聯(lián)固化而不溶于顯影液,而未曝光部分溶于顯影液,將與掩膜上相反的圖形復(fù)制到襯底上。
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 10
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光刻光刻(英語:photolithography)是半導(dǎo)體器件制造工藝中的一個(gè)重要步驟,該步驟利用曝光和顯影在光刻膠層上刻畫幾何圖形結(jié)構(gòu),然后通過刻蝕工藝將光掩模上的圖形轉(zhuǎn)移到所在襯底上。這里所說的襯底不僅包含硅晶圓,還可以是其他金屬層、介質(zhì)層,例如玻璃、SOS中的藍(lán)寶石。下面以襯底上金屬連接的刻蝕為例講解光刻過程。首先,通過金屬化過程,在硅襯底上布置一層僅數(shù)納米厚的金屬層。然后在這層金屬上覆上一層光刻膠。這層光阻劑在曝光(一般是紫外線)后可以被特定溶液(顯影液)溶解。使特定的光波穿過光掩膜照射在光刻膠上,可以對(duì)光刻膠進(jìn)行選擇性照射(曝光)。然后使用前面提到的顯影液,溶解掉被照射的區(qū)域,這樣,光掩模上的圖形就呈現(xiàn)在光刻膠上。通常還將通過烘干措施,改善剩余部分光刻膠的一些性質(zhì)。上述步驟完成后,就可以對(duì)襯底進(jìn)行選擇性的刻蝕或離子注入過程,未被溶解的光刻膠將保護(hù)襯底在這些過程中不被改變??涛g或離子注入完成后,將進(jìn)行光刻的最后一步,即將光刻膠去除,以方便進(jìn)行半導(dǎo)體器件制造的其他步驟。通常,半導(dǎo)體器件制造整個(gè)過程中,會(huì)進(jìn)行很多次光刻流程。生產(chǎn)復(fù)雜集成電路的工藝過程中可能需要進(jìn)行多達(dá)50步光刻,而生產(chǎn)薄膜所需的光刻次數(shù)會(huì)少一些。
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 10
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封裝最早的集成電路使用陶瓷扁平封裝,這種封裝很多年來因?yàn)榭煽啃院托〕叽缋^續(xù)被軍方使用。商用電路封裝很快轉(zhuǎn)變到雙列直插封裝,開始是陶瓷,之后是塑料。1980年代,VLSI電路的針腳超過了DIP封裝的應(yīng)用限制,最后導(dǎo)致插針網(wǎng)格數(shù)組和芯片載體的出現(xiàn)。表面貼著封裝在1980年代初期出現(xiàn),該年代后期開始流行。它使用更細(xì)的腳間距,引腳形狀為海鷗翼型或J型。以Small-Outline Integrated Circuit(SOIC)為例,比相等的DIP面積少30-50%,厚度少70%。這種封裝在兩個(gè)長邊有海鷗翼型引腳突出,引腳間距為0.05英寸。Small-Outline Integrated Circuit(SOIC)和PLCC封裝。1990年代,盡管PGA封裝依然經(jīng)常用于高端微處理器。PQFP和thin small-outline package(TSOP)成為高引腳數(shù)設(shè)備的通常封裝。Intel和AMD的高端微處理器現(xiàn)在從PGA(Pine Grid Array)封裝轉(zhuǎn)到了平面網(wǎng)格陣列封裝(Land Grid Array,LGA)封裝。球柵數(shù)組封裝封裝從1970年代開始出現(xiàn),1990年代開發(fā)了比其他封裝有更多管腳數(shù)的覆晶球柵數(shù)組封裝封裝。在FCBGA封裝中,晶片(die)被上下翻轉(zhuǎn)(flipped)安裝,通過與PCB相似的基層而不是線與封裝上的焊球連接。FCBGA封裝使得輸入輸出信號(hào)陣列(稱...
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 09
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集成電路集成電路(英語:integrated circuit,縮寫作 IC;德語:integrierter Schaltkreis),或稱微電路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在電子學(xué)中是一種把電路(主要包括半導(dǎo)體設(shè)備,也包括被動(dòng)組件等)小型化的方式,并時(shí)常制造在半導(dǎo)體晶圓表面上。前述將電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上的集成電路又稱薄膜(thin-film)集成電路。另有一種厚膜(thick-film)集成電路(hybrid integrated circuit)[1][注 1]是由獨(dú)立半導(dǎo)體設(shè)備和被動(dòng)組件,集成到襯底或線路板所構(gòu)成的小型化電路[注 2]。本文是關(guān)于單片(monolithic)集成電路,即薄膜集成電路。從1949年到1957年,維爾納·雅各比(Werner Jacobi)、杰弗里·杜默(Jeffrey Dummer)、西德尼·達(dá)林頓(Sidney Darlington)、樽井康夫(Yasuo Tarui)都開發(fā)了原型,但現(xiàn)代集成電路是由杰克·基爾比在1958年發(fā)明的。其因此榮獲2000年諾貝爾物理獎(jiǎng),但同時(shí)間也發(fā)展出近代實(shí)用的集成電路的羅伯特·諾伊斯,卻早于1990年就過世。
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 09
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刻蝕刻蝕(英語:etching)是半導(dǎo)體器件制造中利用化學(xué)途徑選擇性地移除沉積層特定部分的工藝。刻蝕對(duì)于器件的電學(xué)性能十分重要。如果刻蝕過程中出現(xiàn)失誤,將造成難以恢復(fù)的硅片報(bào)廢,因此必須進(jìn)行嚴(yán)格的工藝流程控制。半導(dǎo)體器件的每一層都會(huì)經(jīng)歷多個(gè)刻蝕步驟。[1] 刻蝕一般分為電子束刻蝕和光刻,光刻對(duì)材料的平整度要求很高,因此,需要很高的清潔度。 但是,對(duì)于電子束刻蝕,由于電子的波長極短,因此分辨率與光刻相比要好的多。 因?yàn)椴恍枰谀0澹虼藢?duì)平整度的要求不高,但是電子束刻蝕很慢,而且設(shè)備昂貴。對(duì)于大多數(shù)刻蝕步驟,晶圓上層的部分位置都會(huì)通過“罩”予以保護(hù),這種罩不能被刻蝕,這樣就能對(duì)層上的特定部分進(jìn)行選擇性地移除。在有的情況中,罩的材料為光阻性的,這和光刻中利用的原理類似。而在其他情況中,刻蝕罩需要耐受某些化學(xué)物質(zhì),氮化硅就可以用來制造這樣的“罩”。
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 08
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摻雜 (半導(dǎo)體)摻雜(英語:doping)是半導(dǎo)體制造工藝中,為純的本征半導(dǎo)體引入雜質(zhì),使之電氣屬性被改變的過程。引入的雜質(zhì)與要制造的半導(dǎo)體種類有關(guān)。輕度和中度摻雜的半導(dǎo)體被稱作是雜質(zhì)半導(dǎo)體,而更重度摻雜的半導(dǎo)體則需考慮費(fèi)米統(tǒng)計(jì)律帶來的影響,這種情況被稱為簡并半導(dǎo)體。載流子濃度摻雜物濃度對(duì)于半導(dǎo)體最直接的影響在于其載流子濃度。在熱平衡的狀態(tài)下,一個(gè)未經(jīng)摻雜的本征半導(dǎo)體,電子與空穴的濃度相等,如下列公式所示:n=p=ni對(duì)于非本征半導(dǎo)體在熱平衡的狀態(tài)下,這個(gè)關(guān)系變?yōu)?對(duì)輕摻雜而言):n0 · p0=ni2其中n0是半導(dǎo)體內(nèi)的電子濃度、p0則是半導(dǎo)體的空穴濃度,ni則是本征半導(dǎo)體的載流子濃度。 ni會(huì)隨著材料或溫度的不同而改變。對(duì)于室溫下的硅而言, ni大約是1.5×1010cm-3 。通常摻雜濃度越高,半導(dǎo)體的導(dǎo)電性就會(huì)變得越好,原因是能進(jìn)入導(dǎo)帶的電子數(shù)量會(huì)隨著摻雜濃度提高而增加。摻雜濃度非常高的半導(dǎo)體會(huì)因?yàn)閷?dǎo)電性接近金屬而被廣泛應(yīng)用在今日的集成電路制程來取代部分金屬。高摻雜濃度通常會(huì)在n或是p后面附加一上標(biāo)的“+”號(hào),例如 n+ 代表摻雜濃度非常高的n型半導(dǎo)體,反之例如 p-則代表輕摻雜的p型半導(dǎo)體。需要特別說明的是即使摻雜濃度已經(jīng)高到讓半導(dǎo)體退化為導(dǎo)體,摻雜物的濃度和原本的半導(dǎo)體原子濃度比起來還是差距非常大。以一個(gè)有晶格結(jié)構(gòu)的硅本征半導(dǎo)體而...
發(fā)布時(shí)間: 2019 - 01 - 08
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